Корзина
55 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Анализатор производственных дефектов Seica Compact TK

Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126

Модель Compact TK– это адаптерная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей в производстве.

Функциональные возможности:
  • Внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов, включая  согласование обмоток, установленных микросхем по входным защитным диодам, качества пайки микросхем емкостным методом и т.д.
  • Внутрисхемное цифровое тестирование (опция): контроль цифровых микросхем на соответствие таблице истинности.

Для исключения влияния параллельно установленных микросхем (например, при наличии шинной технологии) на вход тестируемой микросхемы подаются импульсы большого тока с ограниченной длительностью (backdriving - принудительный перевод логики в нужное логическое состояние). Максимальное количество гибридных тестовых каналов (аналоговых/цифровых) системы – 1536 (с шагом, кратным 64). Система работает с адаптерными устройствами типа «поле контактов» (bed-ofnails) с автоматическим пневматическим прижимом. В тестер по модульному принципу могут быть добавлены функциональные модули источников питания, контроллера динамического цифрового тестирования, а также дополнительные мультиплексирующие, релейные и цифровые модули.

 

Технические характеристики:

Тестируемая плата

Макс. размер: 480х360 мм

Внутрисхемное тестирование

КЗ/Обрывы

Сопротивление: 0,1 Ом - 100 МОм

Емкость:10 пФ - 10000 мкФ

Индуктивность: 1 мкГн - 100 мГн

Транзисторы

Диоды и стабилитроны до 100 В

Трансформаторы

Реле

Проверка неприпаянных выводов микросхем (опция)

Контроль качества пайки (опция)

Система локализации неприпаянных выводов микросхем (BGA, QFP, PLCC и т.д.)

Производительность

Время внутрисхемного тестирования платы с 60-100 компонентами ориентировочно 15-25 с.

Общие характеристики

Габаритные размеры (ДхШхВ): 1600х900х1600 мм

Вес: 300 кг.

Эл.питание: 220В, 50Гц, 2,5 кВт

Пневмопитние: 5,5 атм, 20л/мин

 

Характеристики
Основные
Страна производитель Италия
Пользовательские характеристики
Производитель Seica
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте