Корзина
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2722452

Атомно-силовой микроскоп Shimadzu SPM-9700

  Атомно-силовой микроскоп Shimadzu SPM-9700, фото 1
 Атомно-силовой микроскоп Shimadzu SPM-9700, фото 2
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • +375172722452
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
      +375172722452
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700  

Сканирующая зондовая микроскопия-метод исследования формы и локальных свойств поверхности твердого тела.  

SPM-9700 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой(AFM), магнитно-силовой(LFM), сканирующей туннельной микроскопии(STM), а также Кельвин-микроскопии (KFM). 
Графический интерфейс в среде Windows обеспечивает полное управление прибором, анализ и документирование результатов.

 

C помощью SPM-9700 можно: 

  • получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
  • измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра: 

- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность),

- электрических (потенциал, проводимость),

- магнитных (распределение намагниченности).

Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.

 

Технические характеристики

  • Разрешение - 0,2 нм по осям X, Y, 0,01 нм по оси Z;
  • перемещение детектирующей системы - источник света / оптический рычаг / детектор;
  • непрерывное освещение кантилевера лазерным диодом, даже при смене образца;
  • фотодетектор;
  • сканер с трубчатым пьезоэлектрическим приводом, диапазоны сканирования:

- 30 мкм x 30 мкм x 5 мкм (стандартная комплектация);
- 125 мкм x 125 мкм x 7 мкм (опция);
- 55 мкм x 55 мкм x 13 мкм (опция);
- 2,5 мкм x 2,5 мкм x 0,3 мкм (опция).

  • магнитный зажим для фиксации образца;
  • механизм скольжения головки со встроенной системой перемещения детектора и кантилевером. Смена образца без удаления кантилевера;
  • максимальные размеры образца - 24 мм*8мм;
  • полностью автоматический, независимый от толщины образца механизм настройки;
  • по оси Z c шаговым двигателем, максимальный ход - 10 мм;
  • антивибрационная система, встроенная в блок SPM;
  • возможность заменять образцы без удаления держателя кантилевера;
  • доступность образца во время измерения;
  • высота образца настраивается автоматически, независимо от его толщины.

 

Стандартные режимы работы: 

  • Контактный режим;
  • Режим латеральных сил;
  • Динамический режим;
  • Фазовый режим;
  • Режим силовой модуляции;
  • Силовая кривая.

 

Опциональные режимы работы:

  • Режим проводимости;
  • Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия);
  • Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия);
  • Силовое картирование;
  • Режим векторного сканирования;
  • Режим сканирования в слое жидкости;
  • Электрохимическая атомно-силовая микроскопия.

 

Опции для расширения возможностей SPM-9700: 

  • Оптический микроскоп с цифровой камерой;
  • Волоконно-оптический осветитель;
  • Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования;
  • Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы;
  • Программа анализа распределения частиц по размерам.

 

 

Характеристики
Основные
Производитель   Shimadzu
Страна производитель Япония
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре