Корзина
22 отзыва
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2374211

Рентгенофлуоресцентный спектрометр Xenemetrix Genius IF

  Рентгенофлуоресцентный спектрометр Xenemetrix Genius IF
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375 (29) 640-41-26
  • +375 (17) 237-42-11 доб. 418
  • Адрес и контакты
    • Телефон:
      +375 (29) 640-41-26
      +375 (17) 237-42-11 доб. 418,
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      Pobřežní 249/46, Karlín, 186 00 Praha 8, Praha, Чехия
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

XRF спектрометр Xenemetrix Genius IF производит неразрушающий качественный и количественный анализ от Углерода (6) до Фермия (100), обеспечивая пределы обнаружения от долей ppm до высоких процентных содержаний.

Спектрометр удобно размещается на стандартном лабораторном столе или благодаря укрепленному дизайну (опционально) – в мобильной лаборатории.

Соответствует стандартам MIL 810E (устойчивости оборудования ко всевозможным стрессам в полевых условиях).

Кремниевый дрейфовый детектор(SDD): обеспечивает возможность анализа с высокой скоростью счета импульсов, улучшенным разрешением – ниже 125 эВ, и быстрым откликом для минимизации времени анализа.

Кремниевый дрейфовый детектор для анализа легких элементов (SDD LE): Ультратонкое окно детектора обеспечивает превосходные характеристики для анализа элементов с малым атомным номером.

Вторичные мишени: Genius IF имеет уникальную запатентованную геометрию, сочетающую восемь вторичных мишеней и восемь настраиваемых фильтров, используемых в режиме прямого возбуждения, для оптимального возбуждения всех элементов, которые могут быть обнаружены с помощью EDXRF спектрометра. Рентгеновская трубка возбуждает характеристические K-линии вторичных мишеней (чистого металла), которые используются для возбуждения образца «монохроматически». Широкоугольная геометрия и вторичные мишени обеспечивают отличные результаты при анализе макро, микро и следовых элементов. При использовании вторичных мишеней, пределы обнаружения некоторых элементов могут быть значительно снижены. В результате снижения пределов обнаружения, Genius IF подходит для более широкого ряда целей, которые ранее были не доступны для EDXRF инструментов, и является наиболее универсальным элементным анализатором.

На Genius IF можно также проводить анализ в классическом режиме прямого возбуждения.

 

Genius IF включает в себя следующие эффективные компоненты:

  • Полностью интегрированный компьютер

  • Кремниевый дрейфовый детектор высокого разрешения

  • Мощная рентгеновская трубка с изменяемым размером пятна, разработанная для адаптации к образцам разных размеров

Восемь вторичных мишеней и восемь настраиваемых фильтров для быстрого и точного определения микроэлементов

 

Основные области применения:

  • Полимеры: анализ сырья для производства пластмасс, PVC, добавки, следы

  • Добыча и производство минерального сырья: цемент, известняк, песок, глина, бокситы, фосфориты, гипс

  • Переработка нефти: Контроль содержания серы серы в топливе, мониторинг смазочных масел, присадок, продуктов, износа металлических деталей

  • Металлургия: исследования и контроль качества различных технологических процессов в металлургической промышленности при производстве нержавеющей стали, чугуна, сортировке металлов

  • Защита окружающей среды: сточные воды, соответствие директиве RoHS, загрязнение атмосферы, почва и грунт

  • Толщина покрытий и тонкие плёнки: анализ многослойных покрытий, покрытий для стали, примесей

  • Криминалистика: анализ улик, совпадение материалов, взрывчатые вещества

  • Продукты питания, парфюмерия и лекарственные препараты: проверка добавок, сырья, качества упаковки и прочее

  • Научные исследования: исследования в области материаловедения, химической промышленности и др.

 

Технические характеристики

Характеристики

SDD Версия

SDD LE Версия

Возможности анализа

Диапазон определения

F(9) - Fm(100)

C(6) - Fm(100)

Определяемые концентрации

Доли ppm - 100%

Генерация рентгеновского излучения

Рентгеновская трубка

Rh/Ag/Mo/W/Pd анод

Источник излучения

50кВ, 50Вт

 

Прямое возбуждение с тремя программно-заменяемыми фильтрами

Стабильность

Точность 0.1% при температуре окружающей среды

Детектирование рентгеновского излучения

Детектор

SDD

SDD LE

Разрешение (FWHM), при 5.9 kэВ

125эВ ± 5эВ

Окно детектора

Be

Тонкое окно для анализа легких элементов

Основные особенности системы

Автосэмплер

8/16 позиций

Рабочая среда

Воздух/ Разрежение/ Гелий

Фильтры

8 (с возможностью установки необходимых фильтров)

Источник электропитания

110-230В 50/60Гц

Обработка сигнала

Высокоскоростной цифровой мультиканальный анализатор

Габариты системы

(L x W x H, cм)

Без упаковки: 55 x 55 x 32, С упаковкой: 80 x 80 x 65

Вес

50кг (net), 90кг (gross)

Размер камеры

22 x 22cм, H=5cм

Компьютер

Встроенный ПК

Программное обеспечение

Системное программное обеспечение

Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров

Управление

Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала

Обработка спектров

Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных

Алгоритмы количественного анализа

Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter

Формирование отчета

Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер

Easy nEXt

Упрощенное програмное обеспечение для работы в режиме «Pass/Fail»

Дополнительные опции

Автосэмплер на 16 позиций. Устройство для вращения образцов. Програмное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Укрепленный корпус. Оптимизированный для анализа легких элементов детектор.

Характеристики
Основные
Производитель   Xenemetrix
Страна производитель Израиль
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре
Добавить отзыв

Отзывов пока нет, будьте первыми!

social-icon
Loading...