Корзина
24 отзыва
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2374211

Рентгенофлуоресцентный спектрометр Xenemetrix X-PMA

  Рентгенофлуоресцентный спектрометр Xenemetrix X-PMA
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375 (29) 640-41-26
  • +375 (17) 237-42-11 доб. 418
  • Адрес и контакты
    • Телефон:
      +375 (29) 640-41-26
      +375 (17) 237-42-11 доб. 418,
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      Pobřežní 249/46, Karlín, 186 00 Praha 8, Praha, Чехия
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Настольный энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр для анализа драгоценных металлов

 

Технические характеристики

 

Характеристики

X-PMA

Возможности анализа

Диапазон определения

Na(11) – Fm(100)

Определяемые концентрации

ppm - 100%

Генерация рентгеновского излучения

Рентгеновская трубка

Mo анод

Источник излучения

50кВ, 50Вт

Способ возбуждения

Прямое возбуждение с программно-заменяемыми фильтрами

Размер фокусного пятна

Микрообласть - Ø 1 мм

Стабильность

Точность 0.1% при температуре окружающей среды

Детектирование рентгеновского излучения

Детектор

Pin-Diode с термоэлектрическим охлаждением

Разрешение (FWHM), при 5.9 kэВ

155 эВ ± 10 эВ

Окно детектора

Be

Основные особенности системы

Рабочая среда

Воздух/Гелий

Фильтры

6 (с возможностью установки необходимых фильтров)

Источник электропитания

110-230В 50/60Гц

Обработка сигнала

Высокоскоростной цифровой мультиканальный анализатор

Габариты системы

(L x W x H, cм)

Без упаковки: 55 x 55 x 32, С упаковкой: 80 x 80 x 65

Вес

50кг (net), 90кг (gross)

Размер камеры

22 x 22cм, H=5cм

Компьютер

Встроенный ПК

Программное обеспечение

Системное программное обеспечение

Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров

Управление

Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала

Обработка спектров

Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных

Алгоритмы количественного анализа

Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter

Формирование отчета

Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер

Дополнительные опции

Програмное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Укрепленный корпус. Оптимизированный для анализа легких элементов детектор.

 

Характеристики
Основные
Производитель   Xenemetrix
Страна производитель Израиль
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре
Добавить отзыв

Отзывов пока нет, будьте первыми!

social-icon
Loading...