Корзина
55 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Рентгеновской микроскоп Zeiss Xradia UltraSPX-S

Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Сканирующий рентгеновский микроскоп сверхвысокого разрешения для синхротронного источника.

Серия UltraSPX-S позволяет использовать достоинства когерентного пучка рентгеновского излучения, доступного на современных синхротронных источниках, для того, чтобы довести широко распространенные рентгеновские аналитические методы, такие как рентгеновская флуоресценция, спектроскопия и дифракция, до исследований с нанометровым масштабом.

Собственные рентгеновские технологии компании Xradia с высокими рабочими характеристиками эффективно применяются в приборах UltraSPX-S для создания сфокусированного пучка рентгеновского излучения с поперечным сечением до 30 нм. Этот рентгеновский зонд производит растровое сканирование всего образца, результатом которого является изображение с высоким разрешением, содержащее информацию о распределении элементов, химическом или кристаллографическом составе в зависимости от энергии фотонов и методики детектирования. Кроме того, теперь стала доступна работа с криогенными образцами для уменьшения последствий радиационных повреждений органического материала.

 

Применение:

  • Исследования в области науки о жизни
  • Характеризация полупроводников
  • Расширенный анализ материалов
  • Исследования в области геологических и экологических наук

 

Преимущества:

  • Структурная, химическая, элементная и кристаллографическая информация на наноуровне
  • Ультравысокое оптическое разрешение до 30 нм
  • Методики флуоресценции, абсорбции, ближней тонкой структуры спектров рентгеновского поглощения и фазового контраста
  • Cтабильность при разрешении менее 5 нм 
  • Открытая архитектура системы позволяет легко менять конфигурации в зависимости от требований пользователя
  • Специализированная система транспортировки проб в криогенном состоянии для минимизации радиационных повреждений органических образцов (для высоко-энергетичных фотонов)
  • Специализированная система для работы с образцами в криогенном состоянии для минимизации радиационных повреждений органического материала (версия для высоко-энергетичных фотонов).


Характеристики

  • Лучшее разрешение 30 нм
  • Диапазон энергий 5 – 20 кэВ (модель UltraSPX-S200)/ 200 – 3000 кэВ (модель UltraSPX-S220)
  • Давление в камере атмосферное или вакуум
Характеристики
Основные
Производитель   Carl Zeiss
Страна производитель Германия
Спецификация
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте