Корзина
55 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Просвечивающий электронный микроскоп FEI Tecnai G ² 20

Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Многоцелевой электронный микроскоп для нанотехнологий. 

Tecnai G2 20 ПЭМ представляет собой современный просвечивающий электронный микроскоп с улучшенным, ориентированным на пользователя, интерфейсом. Он обеспечивает высокую эффективность и производительность, эксплуатационную гибкость и простоту использования. Для управления используется операционная система (ОС) Windows® ХР. Оборудование, которое можно дополнительно установить, например, СПЭМ, CDD камеры, детекторы с дисперсией по энергии для рентгеноспектрального микроанализа (EDX), спектроскопии характеристических потерь энергии электронами (EELS), энергетические фильтры, встроены в пользовательский интерфейс. Это позволяет операторам с разным опытом работы в полной мере использовать все функциональные возможности системы через один простой интерфейс.


Tecnai G ² 20 – универсальный прибор позволяет решать широкий круг фундаментальных и прикладных задач. Фундаментальное понимание материалов и клеточных свойств начинается с тщательного исследования характеристик структуры. Морфология, кристаллическая структура, химический состав, внутреннее строение, а также структура поверхностей и дефектов - все это влияет на свойства материала. С помощью просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 можно изучать широкий спектр обычных и современных материалов, лабильных веществ, композитов, смесей, строение тканей и клеток. 

При взаимодействии электронного пучка с исследуемым образцом генерируется широкий спектр сигналов, которые несут разнообразную ценную информацию о нем. Tecnai G2 20 был специально разработан для рационального и эффективного получения и обработки этих сигналов. Сочетание 2D и 3D визуализации с высоким разрешением, как при комнатных, так и при низких температурах, использование светло- или темнопольных СПЭМ-изображений, дифракции электронов и обстоятельного микроанализа делает Tecnai G2 20 универсальным прибором, как для классического материаловедения, так и для науки о жизни.  

Tecnai G ² 20 может поставляться в различных конфигурациях, необходимых пользователю. Доступен целый ряд запатентованных симметричных объективных линз, каждая со своими уникальными качествами для удовлетворения требований научных исследований: работа с высоким разрешением (S-TWIN) или со сверхвысоким разрешением (U-TWIN) с использованием большого наклона (не более ± 80° для томографии TWIN), или сочетание оптимального зонда и аналитических характеристик (X-TWIN).

Tecnai G ² 20 можно оснастить полностью встроенными цифровыми системами СПЭМ, EDX и энергетическими фильтрами, чтобы реализовать комбинированные эксперименты, такие как спектральное профилирование и визуализация спектра.

 

Особенности:

  • Большое разнообразие программных продуктов FEI доступны для различных применений, калибровки, автоматизации, планирования и дистанционного управления.
  • Высокая эффективность получения изображений в сканирующем и просвечивающем режимах и анализа
  • Универсальный микроскоп высокого разрешения для исследований в материаловедении и науке о жизни
  • Удобное для использования высокое напряжение
  • Одновременная регистрация данных с помощью опций ПЭМ CCD камер, детекторов с дисперсией по энергии, спектрометров характеристических потерь электронов и энергетических фильтров.
  • Сверхвысокий вакуум при получении изображений высокого разрешения при комнатной и низкой температурах
  • Широкий выбор дополнительных прикладных программных решений, например, AutoGun для автоматизации, калибровка увеличений и томография в сканирующем и просвечивающем режимах микроскопа.
  • Получение распределения элементов и изображений с помощью детекторов EDX и EELS
  • Томография с помощью компьютеризированного предметного столика с высокой стабильностью и максимальным наклоном


Характеристики

  • Сверхвысокий вакуум при комнатной температуре
  • Источник электронов20 - 200 кВ
  • Увеличение25 x - 1,000 kx (ПЭМ) 100 x - 5Mx (СПЭМ)
Характеристики
Основные
Производитель   FEI
Страна производитель США
Спецификация
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте