Корзина
55 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Просвечивающий электронный микроскоп FEI TITAN G2 60-300 TEM

Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Микроскоп Titan 60-300 сочетает в себе новый дизайн платформы, предназначенный для реализации идеальной стабильности, максимальной производительности и максимальной гибкости для технологии корректора и монохроматора и их применений. Микроскоп переносит информацию в изображение с субангстремным разрешением, стремясь к высочайшей производительности, доступной как для ПЭМ, так и для СПЭМ.

Исследования на наноуровне стремятся улучшить наше понимание наноструктур и функциональных материалов, связывая макроскопические свойства материала практически со свойствами атомов. Это постоянное стремление толкает к лучшему пониманию локальной организации атомов и их характеристик, химических связей и даже электронной структуры. Titan G2 60-300 является самым мощным СПЭМ с высоким разрешением с большим набором ускоряющих напряжений - от 60 до 300 кВ для 2D и 3D характеризации материалов и химического анализа вплоть до атомного уровня. Микроскоп обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов в СПЭМ и ПЭМ визуализации и химическом анализе, давая возможность объединить Cs-коррекцию, монохроматор, и новую доступную ультрастабильную электронную пушку с высокой яркостью (X-FEG) в одном приборе.

Titan G2 60-300 с Cs-коррекцией позволяет проводить исследования в СПЭМ режиме с фокусировкой на зонде или в режиме ПЭМ с параллельным пучком, дающим пространственное разрешение 80 пм. Система основана на технологии платформы Titan, которая не имеет аналогов по механической, электронной, тепловой и оптической стабильности и предназначен для обеспечения высочайшей производительности во всех режимах работы: ПЭМ, СПЭМ, ПЭМ с энергетическим фильтром (EFTEM), дифракции и спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS), а также и энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS). Гибкость в управлении напряжением в диапазоне от 60 до 300 кВ позволяет оптимизировать этот важный параметр под требования конкретного материала, от сверхлегких углеродных соединений до ультра-плотных тяжелых металлических материалов. Кроме того, Titan G260-300 предназначен для динамических экспериментов, а его S-TWIN объектив захватывает пространство больше площади образца.

Инновационная запатентованная модульная конструкция производит улучшение поля с помощью Cs-коррекции, что позволяет применять двухэтапный подход для улучшению метода в лаборатории. Стабильность, производительность и простота использования Titan'а позволяют внести коррективы в микроскопию, чтобы ее можно было использовать на новом уровне исследований, где новые открытия о взаимосвязи структуры и свойств материала станут возможными благодаря уменьшению масштабов. Титан имеет все шансы продвинуть электронную микроскопию в новую эру путем расширения границ и достижения новых результатов в исследованиях нано диапазона.

 

Технические показатели

  • Ультрастабильная электронная пушка с полевым эмиттером Шоттки с высокой яркостью (X-FEG).
  • Новая система трех объективов с количественным опеделением угла сходимости и размера освещенной области, необходимыми для определения степени электронного облучения и условий освещения.
  • Гибкость выбора высокого напряжения от 60 до 300 кВ (60, 80, 120, 200, 300 кВ)
  • Монохроматор для электронной пушки с высоким энергетическим разрешением в EELS с симметричным распределением энергии и улучшенным пространственным разрешением, особенно при низких напряжениях для HR-S/TEM.
  • Cs-коррекция зонда и изображения
  • Разрешение 80 пм
  • Запатентованная модульная конструкция колонны позволяет минимизировать нестабильность и электронные шумы
  • Конструкция ConstantPower объектива разработана для максимальной термической стабильности в режимах работы и при их переключении
  • Низкий уровень гистерезиса минимизирует перекрестные помехи между оптическими компонентами
  • Симметричный S-TWIN объектив позволяет использовать специальные держатели для нагрева, охлаждения, двухосевой томографии и СТМ / АСМ методов
  • Апертура объектива в задней фокальной плоскости подходит для применения ПЭМ в режиме темного поля
  • Возможность модификации датчика изображения или Cs-корректора
  • Автоматические апертуры для дистанционного контроля и возврата позиции диафрагмы при изменении апертуры
  • Визуализация в режиме без вращения для облегчения управления и четкого отношения между изображением и плоскостью дифракции
  • Компьютеризированный пятиосевой держатель образцов для точного повторного вызова нужного образца и стабильности для обеспечения субангстремного разрешения с небольшим дрейфом
  • Угол наклона ± 40 градусов для аналитического  держателя с возможностью наклона по двум осям для того, чтобы сориентировать максимальное количество зон одного кристалла в поликристаллическом материале. Держатель для томографии использует угол наклона ± 80 градусов, чтобы минимизировать упущенную часть при 3D-реконструкции
  • Визуализация без поля (< 2 Oe) в Лоренцевском режиме с 2 нм разрешением для изучения магнитных свойств
  • В особых случаях можно применить Cs-корректор и добиться 1 нм разрешения
  • Доступно программное обеспечение (TrueImage) для использования HR-TEM
  • По специальному заказу возможно свести к минимуму дрейф мультизагрузчика после загрузки образцов и максимизировать пропускную способность
  • Xplore3D - программное обеспечение для режима автоматизированной томографии (С)ПЭМ и для сверхбыстрой трехмерной реконструкции

 

Ключевые преимущества

  • Увеличение возможностей визуализации и анализа с Cs-корректором и(или) монохроматором
  • Максимальное качество результатов благодаря выбору оптимального ускоряющего напряжения (от 60 до 300 кВ), минимизация артефактов и усиление контраста
  • Повышение пространственного разрешения до уровня 80 пм
  • Максимизация получаемой информации с одного образца с помощью свободной от поля визуализации (< 2 Oe) с нанометровым разрешением для магнитных материалов
  • Максимальная приспособляемость в дифракции (NBD, CBED, LACBED) с новой калибровочной системой
  • Максимизация когерентности и яркости источника электронов с помощью эффективных и стабильных электронных пушек X-FEG
  • Минимизация разброса энергии электронов у источника с помощью добавления монохроматора (< 0.2 эВ) для применений в спектроскопии HRTEM и EELS


Характеристики

  • Ускоряющее напряжение 60 - 300 кВ
  • Пространственное разрешение 80 нм
Характеристики
Основные
Производитель   FEI
Страна производитель США
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте