Корзина
55 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Просвечивающий электронный микроскоп FEI TITAN3 G2 60-300 TEM

Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Titan3 включает в себя новый дизайн базы для обеспечения ультраустойчивой опоры для столбца с корректорами изображения и зонда и монохроматора.

Экзогенный корпус эффективно изолирует колонну от внешнего воздействия и в то же время снижает требования к окружающему помещению и затраты на инфраструктуру. Высокая скорость дистанционного управления позволяет оператору не находиться в непосредственной близости к прибору - эти изменения будут приятным новшеством для большинства операторов. Больший зазор полюсного наконечника, допускаемый скорректированной оптикой, придает гибкость приложениям ПЭМ, работающим с высоким разрешением (таким как томография, крио-ПЭМ, экологический ПЭМ и динамический эксперимент).

Уникальная производительность и вариативность выбора ускоряющего напряжения для визуализации и анализа в (С)ПЭМ с Cs-корректором.

Titan 3 G2 60-300 является самым мощным сканирующим просвечивающим электронным микроскопом с высоким разрешением с большим набор ускоряющих напряжений от 60 до 300 кВ для 2D и 3D характеризации материалов и химического анализа вплоть до атомного уровня. Новый дизайн платформы позволяет достичь максимальной производительности при (С)ПЭМ визуализации и химическом анализе. Это возможно благодаря объединению одного или двух Cs-корректоров (Cs-корректоры датчик и изображения), монохроматора и новой ультрастабильной электронной пушки (X-FEG) в одном приборе.

Возможность объединения двух корректоров позволяет проводить исследования в режиме СПЭМ с фокусировкой на зонде и ПЭМ-режиме с параллельным пучком и разрешением 70 пм на той же площади образца в том же микроскопе. Таким образом, преимущества обоих методов визуализации может быть объединены в платформе (С)ПЭМ с двойной коррекцией. С акустической и тепловой изоляцией корпуса система может передавать информацию до 70 пм и использует сверхвысокое разрешение, которое достигается без особых трудностей и выбирается при установке.

Система основана на технологии платформы Titan, которая не имеет аналогов по механической, электронной, тепловой и оптической стабильности и предназначена для обеспечения высочайшей эффективности во всех режимах работы: ПЭМ, СПЭМ, ПЭМ с энергетической фильтрацией (EFTEM), дифракции и спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS), а также и энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS). Возможность работы Titan3 G2 60-300 в диапазоне от 60 до 300 кВ позволяет оптимизировать ускоряющее напряжение в соответствии с требованиями исследуемого материала, от сверхлегких углеродных соединений до тяжелых металлических материалов. Кроме того, учитывая большой зазор полюсного наконечника S-TWIN объектива, Titan3 G2 60-300 может быть использован для проведения динамических экспериментов в рабочем пространстве, немного большем, чем размер образца.

Новый SmartCam интерфейс для удаленного пользователя дает свободу действий при дистанционной работе с Titan3 G2 60-300 – это удобно и позволяет сохранить постоянные внешние условия окружающей среды. Высокоскоростная цифровая камера и инновационный дружественный интерфейс позволяют сделать работу не просто легко, но и улучшить управление всеми приложениями. Микроскоп охватывает полный динамический диапазон интенсивности от наблюдений биологических образцов с помощью интенсивного фокусированного пучка до применения пучков низких доз и дифракции.

 

Ключевые преимущества

  • Увеличение возможностей визуализации и анализа с использованием двух Cs-корректоров и монохроматора в одном устройстве
  • Максимальное качество результатов благодаря выбору оптимального ускоряющего напряжения (от 60 до 300 кВ), минимизации артефактов и усилению контраста
  • Повышение пространственного разрешения до уровня 70 пм
  • Максимизация времени работы микроскопа для проведения комплексных исследований, требующих высокой стабильности с новой холодной ловушкой
  • Сведение к минимуму влияния окружающей среды на проведение экспериментов с помощью революционного изолирующего экологического корпуса
  • Полная свобода дистанционного управления функциями микроскопа с новым высокоскоростным набором удаленных камер
  • Максимизация когерентности и яркости источника электронов с непревзойденной эффективностью сверхстабильных электронных пушек X-FEG
  • Снижение установочных требований к акустике и изменениям температуры


Характеристики

  • Пространственное разрешение70 пм
  • СПЭМ-разрешение70 пм
  • Разброс по энергии0.2 - 0.8 эВ
Характеристики
Основные
Производитель   FEI
Страна производитель США
Спецификация
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте