Корзина
55 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Просвечивающий электронный микроскоп FEI Titan EТЕМ

Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Titan EТЕМ является идеальным электронным микроскопом высокого разрешения для in situ изучения динамических характеристик химических реакций на атомном уровне, например, при воздействии переменной температуры и давления газа.

Использование инновационной технологии E-Cell в полюсном наконечнике линзы объектива позволяет проводить in situ (С)ПЭМ исследования в газовой атмосфере со смесью до четырех впусков газа с установленным частичным давлением до 2 кПа (20 мбар, 15 торр). Эта уникальная возможность может быть объединена с использованием технологии Cs-корректора и монохроматора компании FEI для изучения динамического поведения морфологии, структуры, состава и связи наноматериалов вплоть до атомного уровня.

ПЭМ для проведения исследований в режиме естественной среды оснащен масс-спектрометром для определения состава газа в образце, что позволяет проводить более качественный in situ контроль во время эксперимента, и дает подробную информацию о газовой среде в микроскопе. Кроме того, встроенное устройство для плазменной очистки позволяет эффективно очищать колонну после газовых экспериментов.

Titan ETEM в режиме высокого вакуума имеет латеральное разрешение аналогично (С)ПЭМ и энергетическое разрешение, такое же как и у Titan 60-300 без технологии ETEM. Таким образом, это легко настраиваемый инструмент, который можно использовать не только для in situ исследований. Система основана на модульной технологии мирового класса с высочайшей механической, электронной и термической стабильностью, и предназначена для обеспечения прекрасной эффективности во всех режимах работы: ПЭМ, СПЭМ, ПЭМ с фильтрацией энергии (EFTEM), дифракции и электронной спектроскопии потерь энергии (EELS).

Объединение всех этих усовершенствований в одном, простом в использовании приборе позволяет изучать динамическое поведение нано-объектов, и помогает расширить границы исследований для получения новых научных результатов.

 

Основные преимущества

  • Динамическое in situ исследования различных реакций на границах раздела газ-твердое тело и газ-жидкость при различных температурах в (С)ПЭМ на атомном уровне
  • Определение фазовых диаграмм наноматериалов в зависимости от температуры и давления газа
  • Повышение качества частиц для катализа через понимание их функций в газовых реакциях и анализа изменений газового состава с помощью масс-спектрометра
  • in situ исследование фазовых переходов на атомарном уровне
  • Синтез новых наноматериалов
  • Запуск химических реакций и их in situ исследование их прохождения
  • Анализ новых наноматериалов с помощью in situ создания материалов и наноструктур
  • Максимизация времени жизни нестабильных материалов с использованием различного парциального давления газа при (С)ПЭМ исследовании
  • Улучшение пространственного разрешения в in situ экспериментах с использованием технологии Cs-корректора изображения возможности полного наклона для держателя образца

 

Применения

Электронная микроскопия может дать больше, чем просто статическое наблюдение характеристик материалов с высоким разрешением. Мы представляем уникальный электронный микроскоп, разработанный специально для in situ исследования динамических процессов в режиме естественной среды, допускающих присутствие газа около образца, а также повышенной температуры. Это восхитительная разработка позволяет проводить in situ динамический синтез и реакции между веществами непосредственно в ПЭМ, что дает прямой доступ к информации о химических веществах, кинетике роста и каталитических процессах, например, при одновременном использовании визуализации и спектроскопии ультравысокого разрешения. Это позволяет достичь глубокого понимания механизмов протекания реакций и идентификации промежуточных продуктов вплоть до атомного уровня.


Характеристики

  • Разброс по энергии0.7 - 0.8 эВ
  • Разрешение в точке≤0.1 нм (стандарт) ≥0.12 нм (ETEM)
  • СПЭМ-разрешение0.136 нм (стандарт) 0.16 нм (ETEM)
Характеристики
Основные
Производитель   FEI
Страна производитель США
Спецификация
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте