Корзина
44 отзыва
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Системы для нано-ИК анализа Anasys Instruments nanoIR и nanoIR2

  Системы для нано-ИК анализа Anasys Instruments nanoIR и nanoIR2
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Системы для нано-ИК анализа - впервые ученые имеют возможность исследовать поверхность, комбинируя наглядность метода АСМ с глубокой информативностью инфракрасной спектроскопии и термоанализа.

Новейшие патентованные разработки воплощенные в платформах nanoIRTM и nanoIR2TM, объединяют эти подходы, позволяя получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца со 100-наномеровым разрешением!

 

Технические особенности

Принцип работы основан на патентованной технологии индуцированного фототермического резонанса (PTIR), предложенной впервые проф. Основу приборов составляет атомно-силовой микроскоп, сопряженный с оптической системой. ИК-излучение, источником которого является перестраиваемый импульсный лазер, фокусируется на образец вблизи АСМ зонда. Поглощение излучения образцом вызывает локальный кратковременный разогрев поверхности и ее обратимую деформацию. Этот процесс возбуждает затухающие колебания АСМ зонда, находящегося в контакте с поверхностью. Анализируется амплитуда и частота этих колебаний. Измерение амплитуды колебаний кантилевера как функции частоты падающего излучения позволяет получить ИК-спектр поглощения области образца вблизи зонда. Частота колебаний несет информацию о вязко-упругих свойствах поверхности. Метод реализован в двух модификациях прибора:

  • nanoIRTM: засветка образца осуществляется снизу (Рис. 1);
  • nanoIR2TM: засветка образца осуществляется сверху, что делает возможным исследование непрозрачных образцов (Рис. 2).

 

 

 

Рисунок 1. Система nanoIR и принцип ее работы.

 

 

 

Рисунок 2. Система nanoIR 2 и принцип ее работы.

Источник излучения перестраивается в диапазоне 900 - 2000 см-1 и 2235-3600 см -1, покрывая большую часть среднего ИК-диапазона, включая диапазон основных полос CH, NH и CO, а также карбонилов и амид I/II. ИК спектр, полученный с помощью nanoIR, находится в хорошем согласии с ИК спектром материала, полученным с помощью ИК-Фурье спектроскопии (Рис. 3).

 

Рисунок. 3. Спектр наноразмерной области полистирола, полученный с помощью nanoIRTM, в сравнении со спектром материала, полученным обычной ИК-Фурье спектроскопией.

 

Система nanoIR2TM реализует также эксклюзивную патентованную методику резонансно-усиленной ИК наноспектроскопии (REINS)4. В данном режиме усиление чувствительности реализуется за счет резонансных колебаний кантилевера, возникающих при совпадении частоты следования лазерных импульсов с частотой контактного резонанса. Это позволяет проводить спектроскопию пленок толщиной менее 20 нм.

Системы nanoIRTM и nanoIR2TM могут быть оснащены опциями:

  • нано-термоанализ – определение температуры плавления/стеклования материала
  • метод контактного резонанса Лоренца – получение качественной информации о вязкоупругих свойствах поверхности.
  • сканирующая тепловая микроскопия (Scanning Thermal Microscopy (SThM)) с точностью <0,1 ºC.

 

Спецификация

Модель

nanoIR

nanoIR2

Стандартное исполнение

Резонансно-усиленная нано-ИК спектроскопия

Засветка образца

Снизу

сверху

Диапазон перестройки лазера

900-2000 см-1 и 2235-3600 см-1

1200-1800 см-1

Полуширина линии лазера

6 см-1 (усредненное значение по всему диапазону)

< 1 см-1

Картирование ИК-поглощения

да

нет

XY диапазон сканера

80 х 80 мкм, режим замкнутой обратной связи с емкостными датчиками

Z диапазон сканера

6 мкм

XY столик

7 х 9 мм моторизированный

Стандартные режимы сканирования

Контактный, прерывистого контакта (tapping mode), метод модуляции силы, регистрация силовых кривых

Опциональные режимы сканирования

Нано-термоанализ (nanoTA), Сканирующая тепловая микроскопия(SThM), проводящая микроскопия (CAFM), Метод контактного резонанса Лоренца

 

Применение нано-ИК анализа

Системы nanoIRTM и nanoIR2TM используются для широкого круга научных задач, касающихся нанотехнологий, создания новых материалов, биомедицины и фармацевтики. Они позволяют проводить исследования различных образцов, таких как органические материалы и композиты, включая многослойные полимерные пленки, наночастицы, билогические макромолекулы, клетки и другие материалы.

 

Примеры применения нано-ИК спектроскопии:

1. Анализ полимерных пленок

Анализ спектров среза многослойной полимерной пленки позволяет восстановить ее композицию и состав. ИК-спектры могут быть проанализированы с использованием стандартных библиотек спектров.

 

2. Анализ биологических объектов и клеток

Внутрення структура бактерии стрептомицета исследована с помощью нано-ИК микроскопии. Слева – топография поверхности. Центр – распределение белков, определенное по поглощению полосы амид I. Справа – распределение визикул тригрицерида, определенное по поглощению карбонильных групп. 

 

3. Исследование ориентированных слоев и фибрилл

Слева – ИК спектр фибрилл фторопласта при двух поляризациях ИК излучения. Справа - распределение интенсивности поглощения на полосе 1404 см-1 двух пересекающихся фибрилл (направление поляризации возбуждающего излучения показано стрелкой).

 

4. Температурные измерения

Использование специальных зондов (ThermaLever™) с контролируемой температурой позволяет исследовать температурные изменения свойств материала. На рисунке слева показана топография пленки фторопласта. Справа показаны ИК спектры материала, зарегистрированные при различных температурах острия зонда, находящегося в контакте с поверхностью.

 

5. Исследование вязкоупругих свойств полимерных смесей

Метод контактного резонанса Лоренца (Lorentz Contact Resonance, LCR) применяется для дифференцирования различных материалов по их вязкоупругим свойствам. Изображение, полученно с помощью LCR, также может использоваться для картирования различных компонент на поверхности и позволяет точно спозиционировать зонд микроскопа для дальнейшего нано-ИК или нано-термоанализа. Возможно также исследовать температурную зависимость механических свойств поверхности. На рисунке показана топография образа (А) смеси полистирола и полиэтилена. LCR-изображение получено при двух различных частотах контактного резонанса, соотвествующим полистиролу (B) и полиэтилену (C). Снизу также показан спектр контактного резонанса.

 

6. Комплексный анализ материалов

Оснащение  систем nanoIRTM и nanoIR2TM опциями контактного резонанса Лоренца (LCR) и nano-TA2TM позволяет проводить многофункциональные исследования, для характеризации морфологии, механических, термических и спектральных свойств образца.  На рисунке показан пример исследования многослойной пленки из нейлона и сополимера этилена и акриловой кислоты (EAA). АСМ-изображение (A), спектральная карта интерфейса, показывающая пики поглощения CH и NH (B), поглощение CH в районе 2900 – 2950 см-1 и относительная механическая жесткость вдоль интерфейса (D), термоанализ материалов, демонстрирующий различие в температурах плавления (E). 

1. Анализ полимерных пленок
 
2. Анализ биологических объектов и клеток
 
3. Исследование ориентированных слоев и фибрилл
4. Температурные измерения
 
5. Исследование вязкоупругих свойств полимерных смесей
 
6. Комплексный анализ материалов

 

Характеристики
Основные
Производитель   Anasys Instruments
Страна производитель США
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте