Корзина
47 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Система для тестирования сверхбольших интегральных схем Chroma ATE 3380-D

  Система для тестирования сверхбольших интегральных схем Chroma ATE 3380-D
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Особенности

 

  • Частота тестирования: 50/100 МГц;
  • Скорость передачи данных: 50/100 Мбит/с;
  • 256 каналов цифрового ввода/вывода;
  • До 256 тестовых площадок для параллельного тестирования;
  • Размер памяти для тестовых последовательностей: 32/64/128M;
  • Функция параллельной оценки соответствия;
  • Модуль измерения времени и частоты (TFMU);
  • Опция SCAN тестирования (1 ГБ);
  • Опция генератора алгоритмических шаблонов (ALPG) для тестирования памяти;
  • Поддержка инструментов для работы со стандартным форматом тестовых данных (STDF);
  • Преобразователь тестовых программ и шаблонов (J750, D10, S50, E320, SC312, V7, TRI-6020);
  • Удобная рабочая среда на базе ОС Windows 7;
  • Язык программирования CRAFT C/C++;
  • Платы для прямого монтажа, совместимые с платами системы 3360P;
  • Платы для подключения устройств с помощью кабелей совместимы с платами 3360D/3360P.

 

Описание

Системы 3380D/3380P/3380 имеют возможность свободного поканального распределения тестовых ресурсов, тестирование может осуществляться в параллельном режиме (256 каналов ввода/вывода для параллельного тестирования 256 интегральных схем). Все это гарантирует возможность применения системы в соответствие с перспективными более высокими требованиями к тестированию ИС.

 

Технические характеристики

Модель

3380D

Тактовая частота

50/100 МГц

Скорость передачи данных

50/100 Мбит/с

Каналы ввода/вывода

256 каналов

Память тестовых последовательностей

32M (стандартно) / 64M и 128M (опционально)

Поддержка параллельного тестирования

256 устройств

EPA

± 500 пс

Архитектура с распределением тестовых ресурсов на каждый канал

Да

Источник напряжения и тока

8 каналов: MXDPS,

16 каналов: MLDPS-16 / MXUVI / MXRE,

32 канала: MLDPS

Количество измерительных модулей (PMU) (± 48 В, ± 100 мА)

16 каналов на плату

Количество каналов управления с повышенным напряжением (от +5.9 В до +13.5 В)

4 канала на плату

Параметрический измерительный модуль (PPMU) (- 2 В ~ 6 В, ± 32 мА)

На каждом канале (установка тока измерение напряжения/установка напряжения измерение тока)

Программируемая активная нагрузка (± 12 мА)

На каждом канале

Модуль измерения времени и частоты (макс. 400 МГц)

На каждом канале

Автономная синхронизация (максимум 200 МГц)

На каждом канале

Рабочая среда

Windows 7

Язык программирования

C либо C++

Опции 3380D

Характеристики

Опция АЦП/ЦАП (MXAWI/MXAWI2) тестирования

4 AWG / 4 DGT (16/24 бит)

Опция тестирования со смешанными сигналами (PXI)

24 бит / 200 Мвыб/с

MXUVI (питание устройства ± 12 В, ± 1 А , максимальный ток спаренных каналов (CG): ± 4 A

16 каналов на плату

MXDPS (питание устройства ± 16 В, ± 2 А )

8 каналов на плату

MXREF (питание устройства ± 48 В, ± 250 мА, максимальный ток спаренных каналов (CG): ± 1 A)

16 каналов на плату

MLDPS (питание устройства + 12 В/± 500 мА , ±5 В/± 1 А максимальный ток спаренных каналов (CG): ± 8 A )

32 канала на плату

Опция SCAN

1 Гбит на цепь

Опция ALPG для тестирования памяти

16X, 16Y, 16D на плату

Параметры и размеры системы

 

Номинальная мощность

Максимум 2 кВА (3 кВА с опцией VI )

Тестовая головка (Ш х Г х В)

365 x 586 x 412 мм

Вес тестовой головки

Максимум 45 кг

Модель питания (Ш х Г х В)

220 x 372 x 182 мм

Вес модуля питания

Максимум 15 кг

Характеристики
Основные
Производитель   Chroma ATE
Страна производитель Китай
Спецификация
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте