Корзина
47 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Система для тестирования сверхбольших интегральных схем Chroma ATE 3360-P

  Система для тестирования сверхбольших интегральных схем Chroma ATE 3360-P
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Особенности

 

  • Тактовая частота: 25/50 МГц;
  • Скорость передачи данных 25/50 Мбит/с;
  • 256 каналов ввода/вывода;
  • Память тестовых последовательностей: 8/16 M;
  • Максимальное количество параллельно тестируемых устройств: 32;
  • Функция параллельной оценки соответствия;
  • Блок измерения времени и частоты (TFMU);
  • Преобразователь тестовых программ и шаблонов (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10, J750, ITS9K, TS670);
  • Опция тестирования аналого-цифрового/цифро-аналогово тестирования (AD/DA);
  • Опция SCAN (512 МБ);
  • Опция генератора алгоритмических шаблонов (ALPG) для тестирования памяти;
  • Поддержка инструментов для работы со стандартным форматом тестовых данных (STDF);
  • Удобная рабочая среда на базе ОС Windows XP;
  • Язык программирования CRAFT C/C++.

 

Описание

 

Полный набор функций для тестирования логических интегральных схем, модулей светодиодов и ЖК дисплеев, ADDA тестирования, ALPG тестирования памяти, тестирования модулей питания и др.

 

Технические характеристики

 

Модель

3360P

Тактовая частота

25/50 МГц

Скорость передачи данных

25/50 Мбит/с

Каналы логического ввода/вывода

Максимум 256 каналов

Память тестовых последовательностей

8 M (16 M опционально)

Поддержка параллельного тестирования

Максимум 32 устройства

EPA

± 625 пс

Архитектура с распределением тестовых ресурсов на каждый канал

Да

Питание устройств (DPS) (± 10 В, ± 2 А)

8

Количество измерительных модулей (PMU) (± 48 В, ± 100 мА)

16

Модуль измерения времени и частоты (макс. 400 МГц)

На каждом канале

Параметрический измерительный модуль (PPMU) (± 0.5 В ~ 6.5 В, ± 35 мА)

На каждом канале

Программируемая активная нагрузка (± 35 мА)

На каждом канале

Рабочая среда

Windows XP

Язык программирования

C либо C++

Опции

 

LCD каналы повышенного напряжения

Максимум 224 LCD канала

Опция АЦП/ЦАП тестирования

4 AWG / 4 DGT (16 бит)

Опция тестирования со смешанными сигналами (PXI)

24 бит / 200 Мвыб/с (14 бит)

LXUVI (питание устройства (DPS) ± 10 В, ± 500 мА)

16 каналов на плату

LXREF ( DPS ± 48 В, ± 250 мА )

16 каналов на плату

HVREF-48 ( DPS ± 48 В, ± 500 мА)

8 каналов на плату

Аналоговая опция HV100 (-6 В ~ +100 В, ± 250 мА)

8 каналов на плату с опцией EPB

Опция SCAN

512 M на плату

Опция ALPG для тестирования памяти

16X, 16Y, 16D

Размеры системы

 

Номинальная мощность

Максимум 3 кВА

Тестовая головка (Ш х Г х В)

640 x 470 x 639 мм

Вес

Максимум 90 кг

 

 

Характеристики
Основные
Производитель   Chroma ATE
Страна производитель Китай
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте