Корзина
47 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Система для тестирования сверхбольших интегральных схем Chroma ATE 3360-D

  Система для тестирования сверхбольших интегральных схем Chroma ATE 3360-D
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Особенности

 

  • Частота тестирования: 50 МГц;
  • 32/64 канала ввода/вывода;
  • Память для хранения тестовых последовательностей: 8M (стандартно) /16M (опционально);
  • Гибкость настройки;
  • Поддержка параллельного тестирования: максимум 8 устройств;
  • Функция параллельной оценки соответствия;
  • Модуль измерения времени и частоты (TFMU);
  • Преобразователь тестовых программ и шаблонов (V7, V50, SC312, J750);
  • Опция аналоговой платы (16 бит);
  • Опция SCAN тестирования (512 МБ);
  • Опция генератора алгоритмических шаблонов (ALPG) для тестирования памяти;
  • Опциональная поддержка инструментов для работы со стандартным форматом тестовых данных (STDF);
  • Удобная рабочая среда на базе ОС Windows XP;
  • Язык программирования CRAFT C/C++;
  • Редактирование шаблонов в режиме реального времени с отображением отказавшего вывода и адреса сбоя;
  • Универсальные инструменты для анализа результатов тестирования: трехмерный имитационный график, отображение формы сигнала, карта полупроводниковой пластины, отклонение по выводу, гистограмма и др.

 

Описание

 

Полный набор тестовых функций для логических интегральных схем, модулей светодиодов и ЖК дисплеев, аналого-цифрового/цифро-аналогового тестирования, ALPG тестирования памяти, модулей питания и др.

Характеристики
Основные
Производитель   Chroma ATE
Страна производитель Китай
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте