Корзина
47 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Система для тестирования сверхбольших интегральных схем Chroma ATE 3360

  Система для тестирования сверхбольших интегральных схем Chroma ATE 3360
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Особенности

 

  • Частота тестирования: 50 МГц (100 МГц при высокоскоростной синхронизации);
  • 608 каналов ввода-вывода;
  • Гибкость настройки (взаимозаменяемый ввод-вывод, UVI, ADDA и LCD);
  • Максимальное количество параллельно тестируемых устройств: 32;
  • Функция параллельной оценки соответствия;
  • Совместимость с зондовыми платами SC312 и TS670;
  • Преобразователь тестовых программ и шаблонов (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1);
  • Опция аналоговой платы (16 – 24 бит);
  • Опция SCAN (512 МБ);
  • Опция генератора алгоритмических шаблонов (ALPG) для тестирования памяти;
  • Поддержка инструментов для работы со стандартным форматом тестовых данных (STDF);
  • Удобная рабочая среда на базе ОС Windows;
  • Редактирование шаблонов в режиме реального времени с отображением отказавшего вывода и адреса сбоя;
  • Универсальные инструменты для анализа результатов тестирования: трехмерный имитационный график, отображение формы сигнала, карта полупроводниковой пластины, отклонение по выводу, гистограмма и др.

 

Описание

 

Наиболее гибкая конфигурация для различных устройств (логических интегральных схем, модулей светодиодов и ЖК дисплеев, ЦАП/АЦП, ALPG для тестирования памяти, модулей питания и др.)

 

Технические характеристики

 

Модель

3360

Частота тестирования

50 МГц (высокосортное тактирование 100 МГц)

Каналы ввода/вывода

Максимум 608 каналов

Память тестовых последовательностей

8 M (16 M опционально)

Поддержка параллельного тестирования

Максимум 32 устройства

Погрешность фронта

± 625 пс

Архитектура с распределением тестовых ресурсов на каждый канал

Да

Питание устройств (DPS) (± 10 В, ± 2 А)

24 (8 DPS, 16 PREF ± 45 В)

Количество измерительных модулей (PMU) (± 45 В, ± 100 мА)

32

Параметрический измерительный модуль (PPMU) (± 0.5 В ~ 6.5 В, ± 35 мА)

На каждый вывод

Программируемая нагрузка (активная)

На каждый вывод (± 35 мА)

Рабочая среда

Windows XP

Язык программирования

C либо C++

Опции

 

LCD каналы

Максимум 544 LCD вывода

Опция аналого-цифрового/цифро-аналогового тестирования (AD/DA)

4 AWG / 4 DGT (16 bits)

Опция высокоточного ADDA

2 AWG/ 2 DGT (24 bits)

Опция SCAN теста

512 M (на плату ввода/вывода)

Опция ALPG для тестирования памяти

16X, 16Y, 16D

UVI (± 10 В, ± 500 мА)

16

Размеры системы

 

Номинальная мощность

Максимум 8 кВА

Система охлаждения

Принудительное воздушное охлаждение

Тестовая головка (Ш х Г х В)

700 x 700 x 430 мм

Основная рама (Ш х Г х В)

960 x 670 x 1750 мм

* Технические характеристики могут быть изменены без предварительного уведомления.

 

Характеристики
Основные
Производитель   Chroma ATE
Страна производитель Китай
Спецификация
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте