Корзина
49 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Рентгеновский дифрактометр PANalytical Empyrean

  Рентгеновский дифрактометр PANalytical Empyrean, фото 1
 Рентгеновский дифрактометр PANalytical Empyrean, фото 2  Рентгеновский дифрактометр PANalytical Empyrean, фото 3  Рентгеновский дифрактометр PANalytical Empyrean, фото 4
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Empyrean - уникальный по своим возможностям рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным q - q гониометром высокого разрешения. Благодаря модульной конструкции предназначен как для научных исследований, так и для аналитического контроля в промышленности, сочетает возможности классического порошкового и исследовательского дифрактометра.

 

Аналитические задачи, решаемы на дифрактометре Empyrean:

  • Идентификация фаз, в том числе в режиме "на просвет", количественный фазовый анализ, определение аморфной компоненты;
  • Определение и уточнение параметров элементарной ячейки;
  • Идентификация фаз (по слоям), рефлектометрия (определение толщины и плотности слоев);
  • Анализ эпитаксиальных структур;
  • Картирование в обратном пространстве;
  • Определение напряжений в слоях, анализ текстуры;
  • Идентификация фаз в наноструктурах, измерение размеров наночастиц;
  • Малоугловое рассеяние;
  • Микродифракция;
  • Определение размеров кристаллитов и микронапряжений;
  • Анализ текстур и напряжений;
  • Высоко и низкотемпературные исследования;
  • Изучение процессов кристаллизации и фазовых переходов при изменении температуры;
  • Получение трехмерной картины исследуемого объекта (компьютерная томография)


Области применения 

  • О дин дифрактометр способен выполнять все задачи рентгеновской дифрактометрии:
  • Классический фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью детектирования 
  • Определение, уточнение параметров элементарной ячейки
  • Определение фаз по слоям
  • Микродифракция
  • Анализ текстуры, построение полюсных фигур
  • Определение напряжений и размера кристаллитов
  • Анализ тонких и очень тонких пленок, многослойных покрытий
  • Анализ эпитаксиальных пленок, высокоупорядоченных структур, анализ кривых качания, построение карт обратного пространства, оценка совершенства структур
  • Анализ монористаллов
  • Рефлектометрия, определение толщины и плотности слоев
  • Анализ наноразмерных порошков и материалов
  • Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (Small angle X-ray scattering), анализ размерного разпределения наночастиц
  • Дифракция в плоскости (in-plane дифракция)
  • Проведение исследований в экстремальных условиях обработки
  • Определение фазовых переходов при изменении параметров кристаллической наноструктуры
  • Кластерный анализ
  • Томографическое сканирование, построение и отображение 3D-проекций внутренней структуры веществ (дефектоскопия)

 

 

 

Характеристики
Основные
Производитель   PANalytical
Страна производитель Нидерланды
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте