Корзина
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2374211

Атомно-силовой микроскоп Nanowizard Ultra Speed, JPK Instruments

  Атомно-силовой микроскоп Nanowizard Ultra Speed, JPK Instruments
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • +375172374211 доб. 418
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
      +375172374211 доб. 418,
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      Вацлавске намести 808/66, Нове Место, 110 00 Прага 1, Прага, Чехия
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Сверхбыстрый сканер — теперь АСМ-изображения высокого разрешения можно получать в считанные секунды на самых сложных образцах!

При помощи нового АСМ Nanowizard Ultra Speed, комбинированного со стандартным инвертированным микроскопом, мощным конденсором, сканером Fast Scan, теперь возможно быстрое сканирование живых клеток в чашке Петри, а так же сканирование динамики единичных молекул. Все эксперименты выполняются с контролем состава и температуры окружающей среды и могут быть связаны с внешними устройствами. Эксперименты по изучению смены фаз в полимерах, кристаллизации, роста пленок и прохождения электрохимических реакций теперь могут фиксироваться в реальном времени.

Обновленная система детектирования отклонения кантилевера позволяет добиваться максимально низких уровней шумов

Быстродействующая электронная начинка вкупе с продуманной механической конструкцией, а так же вновь разработанным усилительным каналом позволяет получать непревзойденные результаты на самых «сложных» образцах.

Использование специальной конструкции сканера в предметном столе позволяет исключить краевые эффекты сканирования, а продвинутая система сканирования с замкнутой петлей обратной связи, построенной на емкостных датчиках, позволяет достигать атомарного разрешения и практически нивелировать ошибки пьезоэлементов.

Шумовые характеристики АСМ NanoWizard Ultra Speed

Шум по XY

<0,2 нм RMS в режиме замкнутой обратной связи

Шум по Z

<0,035 нм RMS

Шум детектора по Z

<60 пм RMS

Нелинейность сканера по XY

<0,03%

Шум по каналу регистрации отклонения кантилевера в диапазоне 0,1-1 кГц

<2 пм RMS

 

 

Характеристики
Основные
Производитель   JPK Instruments
Страна производитель Германия
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре