Корзина
24 отзыва
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2374211

Система спектроскопического измерения толщины пленки SCREEN VM-1020/1030

  Система спектроскопического измерения толщины пленки SCREEN VM-1020/1030
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375 (29) 640-41-26
  • +375 (17) 237-42-11 доб. 418
  • Адрес и контакты
    • Телефон:
      +375 (29) 640-41-26
      +375 (17) 237-42-11 доб. 418,
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      Pobřežní 249/46, Karlín, 186 00 Praha 8, Praha, Чехия
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Установки серии VM-1020/1030 представляют собой экономичный настольный вариант системы спектроскопического измерения толщины пленки.

Модели серии VM-1020/1030 имеют доступную цену и обеспечивают высокую скорость и точность измерения толщины пленки, быстроту вычислений с мгновенным отображением результатов измерений. 

 

Функции:

  • Система разделена на две секции: микроскоп и спектрометр, которые включают в себя блок с линзами объектива, ручной XY столик для образцов, электрический револьвер для объективов, фильтры и подсветку.
  • Используемый волоконно-оптический вход ПЗС спектрометра позволяет принять отраженный от поверхности образца свет и измерить его параметры одновременно на всех длинах волн видимого света, что обеспечивает высокую скорость и точность измерения толщины пленки.
  • Фотометрия по всей длине волны и высокая производительность компьютера обеспечивает быстроту вычислений с мгновенным отображением толщины измеряемой пленки.
  • Использование функция мастера рецептов значительно упрощает работу создания рецептов измерений.

 

Характеристики:

  • Размеры пластин: ⌀50 мм, ⌀75 мм, ⌀100 мм, ⌀125 мм, ⌀150 мм, ⌀200 мм

 
Возможности:

  • Измерение до 25 типов слоев пленок (29 для моделей с УФ-подсветкой)
  • Измерение спектральной отражательной способности
  • Регистрация типов пленок
  • Трехмерное картирование измеренных данных и другой статистической информации
  • Одновременное многоуровневое измерение (до 4 слоев)
  • Расчет скорости травления

 
VM-1020/1030

Размер пятна

  • ø20 мкм (объектив с 5-кратным увеличением)                   
  • ø10 мкм (объектив с 10-кратным увеличением) 
  • ø5 мкм (объектив с 20-кратным увеличением)                 
  • ø2 мкм (объектив с 50-кратным увеличением) (опция)

 

Диапазон измерения

от 10 нм до 20 мкм (при измерении SIO2 на Si с помощью объектива с 10-кратным увеличением)

 

Время измерения

1 сек. или меньше  (при измерении SIO2 на Si с помощью объектива с 10-кратным увеличением)

 

Воспроизводимость (ð)         

0,1 нм (толщина пленки: от 10 нм до 3 000 нм)                          
0,03 % (толщина пленки: от 10 нм до 10 мкм)                                              
0,2 % (толщина пленки: от 3 мкм до )

 

Характеристики
Основные
Производитель   SCREEN
Страна производитель Япония
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре
Добавить отзыв

Отзывов пока нет, будьте первыми!

social-icon
Loading...