Корзина
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2374211

Измерительная станция (профилометр) JENOPTIK Hommel-Etamic Nanoscan 855

  Измерительная станция (профилометр) JENOPTIK Hommel-Etamic Nanoscan 855
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • +375172374211 доб. 418
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
      +375172374211 доб. 418,
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      Вацлавске намести 808/66, Нове Место, 110 00 Прага 1, Прага, Чехия
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Hommel-Etamic Nanoscan 855 — высокоскоростной оптико-механический комбинированный прибор высочайшей точности, предназначенный для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.

Очень высокое разрешение 0,6 нанометра в сочетании с большим диапазоном измерения 24 мм позволяет Hommel-Etamic Nanoscan 855 JENOPTIKпозволяет прибору осуществлять синхронное сверхточное измерение характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях. Помимо высокой точности хода, Nanoscan 855 JENOPTIK имеет отличные точностные характеристики параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне. Высокие требования точности соблюдены благодаря специально составленной системе воздушного демпфирования и корпуса, которые сводят к минимуму внешние влияния на процесс измерения.

Возможность работы с ЧПУ позволяет полностью автоматизировать процесс измерения, устанавливая параметры для измерения в зависимости от используемого датчика. Это сводит к минимуму вмешательство оператора и исключает возможность ошибки при эксплуатации, обеспечивая максимальную производительность при высоком контроле качества.

 

Особенности и преимущества измерительной системы Hommel-Etamic Nanoscan 855 JENOPTIK

  • Эргономичный дизайн;
  • Система активного подавления вибрации;
  • Управление станции с джойстиком;
  • Измерение шероховатости и контура за один проход;
  • Нет необходимости в выравнивании поверхности перед измерением, что экономит время;
  • Возможность измерения шероховатости на сферах;
  • Сверхнизкие внутренние шумы;
  • Подходит для измерений поверхностей с высокой чистотой обработки;
  • Измерение параметров элементов профиля с высокой точностью: окружности (радиуса, диаметры, межцентровые расстояния), участки контура (расстояния, углы, шаги, прямолинейность, автовыравнивание) и т.д.

 

Технические характеристики:

 

Параметр

ед. изм.

Величина

В горизонтальной плоскости

Длина трассирования

мм

0,1 … 200

Скорость трассирования

мм/с

0,05 … 10

Скорость измерения

мм/с

0,05 … 5

Интервал выборки данных

мкм

0,01 … 10

Прямолинейность хода

мкм/мм

0,4 / 200

В вертикальной плоскости

Измерительный диапазон

мм

24

Разрешение

нм

0,6

Измерительное усилие

мН

±0,5 … 50

 

 

 

Характеристики
Основные
Производитель   Jenoptik
Страна производитель Германия
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре