Корзина
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2374211

Измерительная станция (профилометр) JENOPTIK Hommel-Etamic Т8000

  Измерительная станция (профилометр) JENOPTIK Hommel-Etamic Т8000, фото 1
 Измерительная станция (профилометр) JENOPTIK Hommel-Etamic Т8000, фото 2
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • +375172374211 доб. 418
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
      +375172374211 доб. 418,
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      Вацлавске намести 808/66, Нове Место, 110 00 Прага 1, Прага, Чехия
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Hommel-Etamic Т8000 JENOPTIK — измерительная станция с компактным дизайном и очень точной системой метрологии, предназначенная для измерения параметров шероховатости, волнистости и геометрического профиля поверхности различных деталей. Прибор Hommel-Etamic Т8000может применяться для измерений деталей сложной формы не только в лаборатории, но и в различных сферах промышленности: машиностроении, электротехническом производстве, в производстве пластмасс и т.д.

Измерительная станция Т8000 JENOPTIK имеет модульную структуру и при помощи сетевой карты HommelWerke CAN-BUS к ней возможно подключение различных компонентов системы. Запуск режима измерения шероховатости и профиля поверхности осуществляется с помощью устройства подачи Waveline 120 или Waveline 200. Высокоточная базовая плоскость, встроенная в устройство, позволяет использовать безопорный датчик. Колонна, используемая для вертикального перемещения при измерении, позволяет произвести поворот в вертикальной плоскости закрепленного на ней привода на ±45° в ручном или моторизованном режиме, также может быть использована тонкая подстройка ±5° с помощью микрометрического винта устройства точной подачи. Устройство Y-Positionerer, представляющее из себя моторизованный измерительный столик с точным перемещением по оси Y в горизонтальной плоскости, позволяет произвести режим измерения микротопографии поверхности.

Полученные результаты отличаются высочайшей точностью, поскольку измерения производятся в автоматическом режиме с помощью выбранной конфигурации измерительного щупа и соответствующей программы измерений.

 

Особенности и преимущества измерительной системы Hommel-Etamic Т8000 JENOPTIK

  • Универсальный прибор для измерения шероховатости и контура измерительной системы;
  • Расчет всех основных профилей поверхности, параметров шероховатости и волнистости (более 90);
  • Оценка геометрических параметров: радиусов дуг, координат точек, расстояний, углов и топографии поверхностей;
  • Длина хода 120 мм для шероховатости, волнистости и контурных измерений;
  • Одновременное проведение оценки шероховатости и характеристик контура;
  • Моторизованная колонна для автоматического позиционирования щупа;
  • Простой процесс калибровки;
  • Устройство подачи Waveline 120 или Waveline 200;
  • Возможность использования безопорного датчика;
  • Поворот в вертикальной плоскости на 45°;
  • Легкозаменяемые измерительные системы;
  • Измерение шероховатости по всей длине хода;
  • Автоматическое измерение выполняется с моторизованным снижением / подъемом щупа;
  • Моторизованный измерительный столик Y-Positionerer для с точного перемещения по оси Y в горизонтальной плоскости;
  • ПО TURBO ROUGHNESS — для измерений параметров шероховатости; TURBO WAVE — для параметров волнистости;TURBO CONTOUR — для геометрических параметров профиля поверхности; EVOVIS - для измерений топографии.

 

 

Технические характеристики

Принцип измерения

контактный, с применением опорных и безопорных щупов

Класс точности по DIN4772

Класс 1 (3%)

Диапазон измерения/разрешение

  • ± 8 мкм / 1 нм
  • ± 80 мкм / 10 нм
  • ± 800 мкм / 100 нм
  • ± 8000 мкм / 1000 нм

Единицы измерения

Переключаемые мкм/мкдюйм

Применяемые фильтры:

отсечка шага

0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 (мм),

выбираемая

DIN 4768

RC дискретно вычисляемый (мм),

предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

DIN EN ISO 11562, часть 1, (50% Гаусс)

Гаусс (М1) цифровой фильтр (мм),

предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

DIN EN ISO 13565-1

Двойной Гаусс (М2), Rk-параметры

предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

ISO 3274/11562

Предельная длина коротких волн лs

выбор по ступеням λc / λs 30; 100; 300

Скорость трассирования vt

lt - заданная 0,05; 0,15; 0,5 мм/с

или переменная 0,01 - 2,0 мм/с на 0,01 ступени

Длина трассирования lt

0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 мм или переменная от до 0,1 - 200 мм

Длина оценки lm

0,40; 1,25; 4,0; 12,5; 40 мм или переменная отсечка предельной длины волн

Отсечка шага λ [мм]

0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

Измеряемые параметры шероховатости

DIN EN ISO 4287

Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; Rdc; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api

по DIN EN ISO 13565

Rk parameters Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo (70 %) 0.01*Rv / Rk

Профильные параметры по DIN EN ISO 4287

Pt.; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr%; Pdc

Параметры волнистости по DIN EN ISO 4287

Wt.; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku; Wdc

Параметры волнистости по VDA 2007

WD1c; WD1t; WD1sm; WD2c; WD2t; WD2sm

Параметры Motif по DIN EN ISO 12085

R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Pδ c (CR, CL, CF)

Статистика

от 1 до 999 измерений, диапазон, макс., мин., отклонение

Режимы работы

Измерение шероховатости, проведение измерений, дистанционное управление, юстировка, разработка программ, топография

Выравнивание профиля

инверсия, грубое. точное, частичное

Подключаемые периферийные устройства:

Механизмы подачи wavelineTM 20 / 60 / 120 / 200

Моторизованные колонны wavelift 400 / wavelift 800

Поворотная опора wavetilt 60 / 120 / 200

Датчики измерения контура: индуктивный, цифровой, сканирующий

топография поверхности: устройство позиционирования по оси Y

поворотный модуль waverotor RV150 для трассирования колец вдоль образующей

Электропитание

100 В - 120 В / 200 В - 240 В, переключаемое, 50 - 60 Гц, 235 ВА

Рабочая температура

+5 °C От до +40 °C, относительная влажность воздуха макс. 85% без конденсата, (ΔТ=2ºС/ч)

Температура хранения

-20 °C От до +50 °C

 

Стандартный комплект поставки Hommel-Etamic Т8000 JENOPTIK:

  • Персональный компьютер;
  • Монитор 22 «TFT;
  • Клавиатура, «мышь»;
  • Датчик измерения шероховатости;
  • Щуповая консоль для шероховатости;
  • Эталон шероховатости;
  • Датчик измерения контура (опционально);
  • Щуповая консоль для контура (опционально);
  • Моторизованная вертикальная колонна;
  • Приводное устройство;
  • Поворотная опора для приводного устройства;
  • Гранитная плита с Т-образным пазом;
  • 2х-координатный измерительный столик (опционально);
  • Руководство по эксплуатации;
  • Методика поверки.
Характеристики
Основные
Производитель   Jenoptik
Страна производитель Германия
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре