Корзина
49 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Система ионной масс-спектрометрии Cameca IMS 1280 - HR

  Система ионной масс-спектрометрии Cameca IMS 1280 - HR, фото 1
 Система ионной масс-спектрометрии Cameca IMS 1280 - HR, фото 2
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

IMS 1280-HR – это новейший прибор для анализа стабильных изотопов, геохронологии U-Pb, анализа следов элементов и изотопов

Сверхчувствительный спектрометр SIMS с магнитный сектором

Применяется в геологии и оптимизирован для анализа локальных включений или анализа во всем объеме следов элементов и изотопного анализа минералов, обладает высокой чувствительностью и высокой точностью пространственной воспроизводимости. Увеличенные габариты прибора и оптимизированная оптика обеспечивают полную передачу при высоком масс-спектральном разрешении, необходимом для устранения многочисленных взаимовлияний элементов и изотопов, присутствующих в геологических материалах. Наличие пяти перемещаемых детекторов (электронные умножители или цилиндры Фарадея), позволяют прибору проводить быстрый и сверхточный мультиколлекторный анализ от лития до урана.

Когда твёрдый образец бомбардируют первичным потоком ионов с энергией в несколько кэВ, с ионизированной поверхности образца выбивают некоторое количество частиц. SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry - масс-спектрометрия вторичного потока ионов) заключается в анализировании этого вторичного потока ионов с помощью масс-спектрометра.    

Анализ вторичного потока ионов с поверхности образца при ионной бомбардировке даёт информацию об элементном, изотопном и молекулярном строении самых верхних атомных слоёв образца. 

 

SIMS - самая чувствительная методика определения элементного и изотопного строения поверхностного слоя. 

Полученные данные о вторичном потоке очень сильно зависят от химического состава окружающей среды и условий бомбардировки первичным потоком (ионы, энергия, угол). Это может добавить сложности при количественном аспекте анализа.

Методика SIMS обеспечивает уникальное сочетание крайне высокой чувствительности для всех элементов от водорода до урана (предел определения вплоть до ppb-уровня многих элементов), воспроизведение изображения с высоким разрешением по плоскости (до 40 нм) и очень низкий фон, который обеспечивает большой динамический диапазон (больше, чем 5 десятичных разрядов). SIMS - разрушающая методика анализа по природе. Её можно применять к любому типу материалов (изоляторы, полупроводники, металлы), которые могут находиться в вакууме. 

Методика позволяет проводить как элементный, так и молекулярный анализ верхнего монослоя в статическом режиме SIMS. Она также позволяет исследовать объёмные структуры или распределение микроэлементов вглубь в динамическом режиме SIMS, с разрешением вглубь от 1 до 20-30 нм. Вот почему методика SIMS одна из самых распространенных методик поверхностного анализа для углубленного исследования материалов. CAMECA разработала завершенный ряд SIMS-анализаторов, каждый из этих высокотехнологичных инструментов гарантирует наилучшее выполнение поставленной задачи. 

 

Характеристики
Основные
Производитель   CAMECA
Страна производитель Франция
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте