Корзина
24 отзыва
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2374211

Профилометр Bruker ContourGT-X

  Профилометр Bruker ContourGT-X, фото 1
 Профилометр Bruker ContourGT-X, фото 2  Профилометр Bruker ContourGT-X, фото 3
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375 (29) 640-41-26
  • +375 (17) 237-42-11 доб. 418
  • Адрес и контакты
    • Телефон:
      +375 (29) 640-41-26
      +375 (17) 237-42-11 доб. 418,
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      Pobřežní 249/46, Karlín, 186 00 Praha 8, Praha, Чехия
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание:

Компания Bruker – мировой лидер в области трехмерных измерений и инспекции поверхностей. Лучшие в своем классе по простоте использования, автоматизации и анализу получаемых данных, профилометры серии ContourGT открывают перед пользователем безграничные возможности по исследованию образцов, как в материаловедении, так и в медицине.

ContourGT-X - полностью автоматизированная система со встроенной виброизоляцией. Функция автокалибровки системы в совокупности с высокой скоростью измерений без потери в разрешении, значительно ускоряют процесс измерений, что делает эту систему идеальной для работы с потоком образцов. 

ContourGT-X – самый надежный метрологический инструмент для объемного производства офтальмологических линз, медицинских приборов, полупроводниковых приборов, деталей прецизионной обработки и многого другого.

Особенности:

  • Высокоскоростной автофокус, большое разрешение матрицы камеры, большое моторизованное основание для образцов, интегрированная система виброизоляции, доступный расширенный пользовательский интерфейс превращают ContourGT-X в мощный инструмент для контроля качества продукции на различных технологических этапах, а также делают систему незаменимым помощником в центрах коллективного пользования.
  • Широкие возможности по выбору объективов и линз, корректирующих поле зрения, а также наличие опции склейки изображений, позволяют получать изображения интересующих участков поверхностей размером от десятков и сотен мкм до 100х100 мм.
  • Система автокалибровки обеспечивает аккуратность и воспроизводимость измерений.
  • Увеличенная скорость сканирования с вертикальным разрешением на уровне 0,1 Å и c повторяемостью результатов на уровне 0,04 Å (RMS) делают ContourGT-X уникальной системой для экспресс-анализа поверхностей материалов с высочайшей точностью.
  • Наличие атомно-силовой головки NanoLens™ позволяет достичь высочайшего латерального разрешения, и снимать образцы, съемка которых затруднена оптической системой.

 

Технические характеристики:

Основание для образцов XY

200 мм моторизованное  
300 мм моторизованное (опции)

Перемещение по Z

100 мм моторизованное

Функция наклона

наклон сканирующей головки на ±6°

Источник света

Два светодиода с большим сроком службы

Матрица камеры

640 x 480 
1390 x 1040 (опция) 
Цветная 640 x 480 (опция)

Объективы

Стандартные: 1x,1.5x,2x,2.5x,5.0x,10x,20x,50x,115x 
С большим рабочим расстоянием: 2x, 5x, 10x 
Для работы с объектами через прозрачные среды: 2x, 5x, 10x, 20x 
Светлого поля 10x

Крепление объективов

Адаптер под один объектив   
Моторизованная 5-ти позиционная турель 

Линзы поля зрения

0.5,0.75,1.0,1.5,2.0X

Максимальный предел сканирования по вертикали

10 мм

Разрешение по вертикали

<0,01 нм

Повторяемость RMS

0,004 нм

Латеральное разрешение

0,38 мкм  
0.13 мкм (с AcuityXR™)  
0.01 мкм (с NanoLens™)

Максимальная скорость сканирования

114 мкм/с

Коэффициент отражения образцов

0.05% - 100%

Высота образцов

До 10 см

ПО

Vision64 на базе Windows 7 64-бит

Калибровка

Автокалибровка, либо калибровочные стандарты

Габариты

852мм x 793мм x 1608мм

Вес системы

493 кг

 

Диапазон сканирования по XY

70 х 70 мкм - в турели с объективами   
110 х 110 мкм - с адаптером под объектив

Диапазон сканирования по Z

22 мкм

Режимы работы

Статический   
Динамический

Уровни шума по вертикали (Z)

0,4 нм в статическом режиме   
0,3 нм в динамическом режиме

 

Дополнительное оборудование

Объективы и линзы поля зрения

К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже. 

 

Камеры

В базовой комплектации включена камера 640 x 480. Возможно приобретение дополнительных камер: 

  • С разрешением 1280 x 960 пикселей
  • Цветная с разрешением 640 x 480 пикселей

 

Насадка для атомно-силовой микроскопии NanoLens™

NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась

Кроме того, наличие дополнительных методов АСМ позволяют помимо топографии поверхности, получить также информацию о ее свойствах.

Получение и анализ данных с помощью оптической профилометрии и атомно-силовой микроскопии осуществляется с помощью одного программного обеспечения, что не только позволяет оператору быстро просканировать поверхность, но и быстро проанализировать полученные данные с помощью одной программы, сопоставив полученную информацию от обоих методов.

 

 

 

 

Характеристики
Основные
Производитель   Bruker
Страна производитель США
Спецификация
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре
Добавить отзыв

Отзывов пока нет, будьте первыми!

social-icon
Loading...