Корзина
52 отзыва
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Cканирующий акустический микроскоп ACOULAB SAM-DENEB

  Cканирующий акустический микроскоп ACOULAB SAM-DENEB
Под заказ

Цену уточняйте

Написать
  • +375 показать номер +375296404126
  • Контакты
    • Телефон:
      +375296404126
    • Контактное лицо:
      Дежурный специалист
    • Адрес:
      ул. Калинина, 7б, Минск, Беларусь
  • Производитель и гарантия
  • Условия возврата и обмена

Описание

Акустический микроскоп модель SAM-DENEB предназначен для неразрушающего контроля радиоэлектронных изделий. Данная система позволяет тестировать сложные микросборки и микросхемы большой степени интеграции в корпусах BGA, MBGA, Flip Chip, CSP и т.д.

При этом ультразвуковой контроль может осуществляться, как на стадии входного контроля компонентов, так и после установки компонентов на печатные платы, в том числе и после покрытия их лаком или другими конформными покрытиями (после климатических и вибрационных испытаний). 

Кроме того, система может применяться для исследования микроструктуры материалов используемых в производстве радиоэлектронных изделий. Тестовая система SAM-DENEB позволяет получать 3D-модели изделий.  Ультразвук не оказывает отрицательного воздействия на работоспособность проверяемых с его помощью электронных изделий, а эксплуатация акустического микроскопа абсолютно безопасна для работающего на ней персонала и окружающей среды.

Ультразвуковой системой обнаруживаются такие дефекты материалов как: пустоты, расслоения и отслоения, микротрещины и разрывы, геометрические отклонения параметров кристалла и другие скрытые внутренние дефекты.    

 

 

Область применения

Ультразвуковой контроль используется в тех случаях, когда к выпускаемой электронной продукции предъявляются повышенные требования по надежности при самых экстремальных по температуре, давлению и вибрациям условиях эксплуатации (продукция аэрокосмического и оборонного назначения, автомобильная электроника, электронное оборудование  для атомной промышленности).

 

 

В микроскоп SAM-DENEB включен метод сканирования “Tray-scan”, который позволяет производить тестирование компонентов находящихся в поддоне, что дает возможность использовать ультразвуковой контроль в условиях серийного производства.

Ультразвуковое тестирование является современной и передовой технологией, направленной на повышение качества и надежности контролируемых с ее помощью электронных изделий. 

Ниже представлены основные области применения ультразвукового оборудования:

  • Контроль структуры керамических конденсаторов
  • Контроль структуры пластмассовых корпусов
  • Контроль дефектов присоединения кристалла (Die Attach Defects)
  • Контроль микросхем в корпусах Flip Chip
  • Контроль микросхем в корпусах CSP
  • Контроль микросхем в корпусах BGA и MBGA
  • Контроль обработанных полупроводниковых пластин (Bonded Wafers)
  • Контроль микротрещин на подложках и кристаллах
  • Контроль расслоений на подложках и многослойных печатных платах (МПП)
  • Контроль пустот в материалах и паяных соединениях (Voids)
  • Контроль качества паяных соединений
  • Контроль всевозможных скрытых дефектов в материалах

 

Технические характеристики

Сканируемая область: 350 х 350 х 70 мм
Размер резервуара для сканирования: 500 х 520 х 100 мм
Разрешение: 0,5 мкм
Максимальная скорость сканирования: 1000 мм/с
Режимы сканирование: A, B, C-Scan, FFT-Scan, TOF 3D и Visual 3D display
Послойное сканирование До 20 слоев
Аналогово-цифровой преобразователь: Частота дискретизации в реальном времени 500 МГц , полоса пропускания 1 ГГц
Высокочастотные преобразователи (излучатель - приемник): 15, 25, 35, 75, 110, 200 MHZ
Габаритные размеры (ШхГхВ):  880 х 880 х 1330 мм
Вес: 250 кг
Эл. Питание: 230В, 50Гц, 10А

 

Характеристики
Основные
Производитель   ACOULAB
Страна производитель Южная Корея
Отсчетное устройство Цифровое
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте