Установки для испытаний микросхем на разряд статического электричества

При монтаже устройств с микросхемами необходимо применять меры по защите их от пробоя статическим электричеством. Для того, чтобы в дальнейшей работе не происходил отказ интегральных схем (ИС), в производстве проводят тестирование электронных компонентов на установках для испытаний на чувствительность к разряду статического электричества. Установки статического электричества производят следующие тесты:

• испытания на чувствительность к разряду статического электричества (ESD-тест),
• испытания на тиристорный эффект (Latch-Up -тест),
• испытания по модели заряженного устройства (CDM -тест).

Установки статического электричества используются для оценки уровня разработки прибора, проверки пригодности прибора и входного контроля, для обеспечения качества, а также для технологической обработки прибора.