Корзина
47 отзывов
Научное, производственное, лабораторное оборудование
+375 29 6404126

Электронные микроскопы FEI 

При проведении анализа образца с помощью электронной микроскопии поверхность образца сканируется точно сфокусированным пучком электронов. Облучение электронами приводит к излучению вторичных электронов, обратному рассеянию электронов высокой энергии и возникновению рентгеновских лучей, характеристики которых зависят от элементов образца.
Сортировка: в виде галереи в виде списка
товаров на странице: