Корзина
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2374211

Электронные микроскопы FEI 

При проведении анализа образца с помощью электронной микроскопии поверхность образца сканируется точно сфокусированным пучком электронов. Облучение электронами приводит к излучению вторичных электронов, обратному рассеянию электронов высокой энергии и возникновению рентгеновских лучей, характеристики которых зависят от элементов образца.
Сортировка: в виде галереи в виде списка
товаров на странице: