Корзина
E-MAIL: marketing@theseuslab.cz
+375 17 2374211

Инспекционные микроскопы

Инспекционные микроскопы используемые в микроэлектронике предназначены для изучения поверхности полупроводниковых пластин, для контроля качества печатных плат, интегральных схем, пластин, дисплеев, MEMS, фотошаблонов и прочих электронных компонентов.

Сортировка: в виде галереи в виде списка
товаров на странице: